Lock-in Thermography - Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
von: Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin Langenkamp
Springer-Verlag, 2010
ISBN: 9783642024177
260 Seiten,
Download: 6812 KB
Format: PDF
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geeignet für:
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Typ: B (paralleler Zugriff)
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